Pruebas y mediciones
Logre pruebas de mayor densidad, tiempos de prueba más cortos y mayor precisión con nuestros productos y experiencia de procesamiento analógico e integrado
Featured applications
Diseñe sistemas de adquisición de datos (DAQ) precisos en una amplia gama de anchos de banda y aplicaciones con nuestras cadenas de señal de alto rendimiento
¿Por qué elegir TI para sus aplicaciones de prueba y medición?
Diseñe para reducir al mínimo el ruido
Logre el mayor rendimiento de SNR con nuestra cadena de señal de alto rendimiento y productos de alimentación de bajo ruido y diseños de referencia para acelerar su tiempo de comercialización.
Maximice la densidad de canales
Reduzca el tamaño de su cadena de señal y sus soluciones de potencia con nuestra innovadora tecnología de paquete y nuestros productos para la integración del diseño.
Consiga una gran precisión y exactitud
Satisfaga sus necesidades de rendimiento y mejore su relación rendimiento-costo con los ADC y amplificadores de precisión más recientes.
Ingeniería de pruebas y mediciones
La creciente demanda de circuitos integrados está impulsando un aumento tanto de la densidad de los canales de prueba como de las tensiones y corrientes que deben soportar los instrumentos de VI. Nuestros amplificadores de alimentación, conmutadores y módulos de alimentación permiten reducir el tamaño de las soluciones y aumentar la densidad de los canales de prueba.
Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE
How to Select Precision Amplifiers for Semiconductor Testers (Rev. A)
When to Replace a Relay With a Multiplexer (Rev. A)
Featured products for densidad de canales de prueba
Minimizar el ruido es un desafío común para los ingenieros que diseñan una fuente de alimentación para sistemas sensibles al ruido para aplicaciones de prueba y medición, como relojes, convertidores de datos o amplificadores. Aunque el término "ruido" puede significar diferentes cosas para diferentes personas, definimos el ruido como ruido térmico de baja frecuencia generado por resistencias y transistores en el circuito.
Puede identificar el ruido a través de una curva de densidad de ruido espectral en microvoltios por hercio de raíz cuadrada y como ruido de salida integrado en microvoltios de raíz cuadrada media, generalmente en un rango específico de 100 Hz a 100 kHz. Ofrecemos productos y diseños de referencia que ayudan a mitigar el posible acoplamiento de ruidos que puede afectar al rendimiento de los dispositivos de la cadena de señales.
What is a low noise inverting buck converter?
1µV Ultra-Low Noise 12 Vin 3.3 Vout 1-A Power Supply
Low-noise and low-ripple techniques for a supply without an LDO PPT
Featured products for alimentación de bajo ruido
Con décadas de innovación, ofrecemos soluciones de alto rendimiento diseñadas para aplicaciones de prueba y medición. Nuestros avanzados convertidores analógico a digital (ADC), convertidores digital a analógico (DAC), relojes y amplificadores de radiofrecuencia (RF) proporcionan alta velocidad, rendimiento y fiabilidad. Respaldados por una disponibilidad y asistencia de expertos a largo plazo, nuestros componentes le permiten crear sistemas de última generación que superan los límites de la precisión y eficiencia de las mediciones.
Exploring fast frequency hopping in RF sampling data converters in test and measurement applications
How anti-aliasing filter design techniques improve active RF converter front ends
Diseño de referencia LMX1204 en cascada
Featured products for Alta velocidad y RF
Recursos de diseño y desarrollo
Diseño de referencia de comprobador de celdas de batería de control digital de 4 canales y 50 A
Diseño de referencia de formación y prueba de batería 10-A de bajo costo y control digital
Diseño de referencia de cadena de señales de precisión para multímetros digitales
Este diseño de referencia explica la teoría, el diseño y las pruebas de una cadena de señales de alto rendimiento para mediciones de CC. La aplicación principal es como multímetro digital (DMM). Sin embargo, el diseño también se puede utilizar en otras aplicaciones, como la adquisición de datos (...)